研制的熱分析儀系列產(chǎn)品主要面向工業(yè)用戶、科研與教學(xué)，廣泛應(yīng)用于各類材料與化學(xué)領(lǐng)域的新品，工藝優(yōu)化與質(zhì)檢質(zhì)控等。主要測量與熱量有關(guān)的物理和化學(xué)的變化，如物質(zhì)的熔點熔化熱、結(jié)晶點結(jié)晶熱、相變反應(yīng)熱、熱穩(wěn)定性（氧化誘導(dǎo)期）、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度等。

DZ3332 高溫差熱分析儀技術(shù)參數(shù):
1. 溫度范圍: 室溫~1350℃
2. 量程范圍: 0～±2000μV
3. DTA精度: ±0.1μV
4. 升溫速率: 1～80℃/min
5. 溫度分辨率: 0.1℃
6. 溫度準(zhǔn)確度: ±0.1℃
7. 溫度重復(fù)性: ±0.1℃
8. 溫度控制: 升溫：程序控制 可根據(jù)需要進(jìn)行參數(shù)的調(diào)整
降溫：風(fēng)冷 程序控制
恒溫：程序控制 恒溫時間任意設(shè)定
9. 爐體結(jié)構(gòu): 爐體采用上開蓋式結(jié)構(gòu)，代替了傳統(tǒng)的升降爐體，精度高，易于操作
10.氣氛控制: 內(nèi)部程序自動切換
11.數(shù)據(jù)接口: 標(biāo)準(zhǔn)USB接口 配套數(shù)據(jù)線和操作軟件
12.顯示方式: 24bit色，7寸 LCD觸摸屏顯示
13.參數(shù)標(biāo)準(zhǔn): 配有標(biāo)準(zhǔn)物，帶有一鍵校準(zhǔn)功能，用戶可自行對溫度進(jìn)行校正
14.基線調(diào)整: 用戶可通過基線的斜率和截距來調(diào)整基線
15.工作電源: AC 220V 50Hz

  高溫差熱分析儀 差 

產(chǎn)品名稱：堵漏材料實驗裝置 堵漏材料實驗裝置 產(chǎn)品型號：TC-QD-2A

堵漏材料實驗裝置 堵漏材料實驗裝置 型號：TC-QD-2A 
概述： 
TC-QD-2A型堵漏儀按照美國（API）推薦程序設(shè)計，在TC-QD-2型堵漏儀的基礎(chǔ)上，限壓力由8Mpa 
提高至12Mpa，內(nèi)部除了采用鋼球模擬地層裂縫外，增加了可剖縱向隙板+可剖橫向隙板模擬。 
真正意義上實現(xiàn)了模擬測定不同狀態(tài)下的漏失參數(shù)。保留了堵漏壓力反排裝置，可以檢測封 
堵成功后反向破壞封堵所需的力，以便研究封堵材料的結(jié)構(gòu)強度，為堵漏材料的選擇提供更 
可靠依據(jù)。另外在筒體上還加上了排漿口，使實驗做完后能夠把漿輕而易舉的排除。 
主要技術(shù)參數(shù)： 
1、料筒容量：4000ml                                         
2、氣源：氮氣                                               
3、TC-QD-2限工作壓力：12Mpa                                  
4、TC-QD-2A限工作壓力：15Mpa                                 
5、TC-QD-2隙板規(guī)格：1～6號（其中6號是全徑環(huán)），                
TC-QD-2A隙板規(guī)格1～7號（可剖縱向隙板+可剖橫向隙板），14件/臺。 
6、彈子：Φ14.3、φ4.39                                      
7、測堵深度：0～80mm，隙板深度50mm.                  
 

產(chǎn)品名稱：瞬態(tài)平面熱源法快速導(dǎo)熱儀 導(dǎo)熱系數(shù)測試儀 產(chǎn)品型號：DZDR-S

瞬態(tài)平面熱源法快速導(dǎo)熱儀 導(dǎo)熱系數(shù)測試儀 型號：DZDR-S

產(chǎn)品介紹：  
基于瞬態(tài)平面熱源法技術(shù)（TPS）的導(dǎo)熱系數(shù)測試儀。該產(chǎn)品，測試性能穩(wěn)定，數(shù)據(jù)處理分析能力強，可用于各種不同類型材料的熱傳導(dǎo)性能的測量。 
測量對象：  
材料類型:金屬、陶瓷、合金、礦石、聚合物、復(fù)合材料、紙、織物、泡沫塑料（表面平整的隔熱材料、板材），聚氨酯、酚醛、尿醛、礦物棉（玻璃棉、巖棉、礦棉）、水泥墻體、玻璃增強復(fù)合板CRC、水泥聚苯板、夾心混凝土、玻璃鋼面板復(fù)合板材、紙蜂窩板等。 
技術(shù)參數(shù)：     
1.測試范圍: 0.005—300W/(m*K) 
2.測量溫度范圍: 室溫—130℃ 
3.探頭直徑: 一號探頭7.5mm；二號探頭15mm 
4.精度: ±3% 
5.重復(fù)性誤差: ≤3% 
6.測量時間: 5~160秒 
7.電源: AC 220V 
8.整機功率: ﹤500w 
9.樣品溫升:﹤15℃ 
10.測試樣品功率P： 一號探頭功率0；二號探頭功率0 
11.樣品規(guī)格：一號探頭所測單個樣品（15*15*3.75mm）；二號探頭所測單個樣品(30*30*7.5mm) 
注：1號探頭所測的是厚度較薄的低導(dǎo)材料。如所測樣品表面光滑平整且具有粘性可將樣品進(jìn)行疊加 
儀器特點：  
1.測試范圍廣泛，測試性能穩(wěn)定，在國內(nèi)同類儀器中，處于水平； 
2.直接測量，測試時間5-160s左右可設(shè)置，能快速準(zhǔn)確的測出導(dǎo)熱系數(shù)，節(jié)約了大量的時間； 
3.不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響； 
4.無須特別的樣品制備，對樣品形狀并無特殊要求，塊狀固體只需相對平滑的樣品表面并且滿足長寬至少為探頭直徑的兩倍即可； 
5.對樣品實行無損檢測，意味著樣品可以重復(fù)使用； 
6.探頭采用雙螺旋線的結(jié)構(gòu)進(jìn)行設(shè)計，結(jié)合專屬數(shù)學(xué)模型，利用核心算法對探頭上采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析計算； 
7.樣品臺的結(jié)構(gòu)設(shè)計巧妙，操作方便，適合放置不同厚度的樣品，同時簡潔美觀； 
8.探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了進(jìn)口的數(shù)據(jù)采集芯片，該芯片的高分辨率，能使測試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠； 
9.主機的控制系統(tǒng)使用了ARM微處理器，運算速度比傳統(tǒng)的微處理器快，提高了系統(tǒng)的分析處理能力，計算結(jié)果更加精確；  
10.儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測定； 
11.智能化的人機界面，彩色液晶屏顯示，觸摸屏控制，操作方便簡潔； 
12.強大的數(shù)據(jù)處理能力。高度自動化的計算機數(shù)據(jù)通訊和報告處理系統(tǒng) 

參照標(biāo)準(zhǔn)： 
ISO22007-22008

產(chǎn)品名稱：手持快檢通箱 產(chǎn)品型號：6600

手持檢通箱型號：6600

操作簡單：輕巧、手持式的*設(shè)計，特別于快速、可靠的現(xiàn)場測試。 
現(xiàn)代傳輸：儀器內(nèi)部可存儲數(shù)萬條測試數(shù)據(jù)和存儲原始測試圖像，可通過藍(lán)牙等無線傳輸模塊，數(shù)據(jù)傳輸過程簡單，可快速將檢測結(jié)果進(jìn)行格式轉(zhuǎn)換或直接打印，上傳 

主機包含分光檢測模塊、膠體金檢測模塊、干式試紙檢測模塊、無線通訊模塊等。 
偵測系統(tǒng)（檢測器）：百萬像素CMOS Sensor/陣列CMOS Sensor 
灰階動態(tài)范圍（數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換率）：3*8bit 
精密度(相對標(biāo)準(zhǔn)偏差)：CV值≤1 %（T/C比為0.5，同一條測試條20次C線積分值與T線積分值的統(tǒng)計數(shù)據(jù)） 
測試模式：T/C峰面積值和掃描圖

產(chǎn)品名稱：147型激光功率計 產(chǎn)品型號：147型

147型激光功率計
【簡單介紹】147型激光功率計可以對波長在400 ~ 1100nm（硅光譜）范圍里的氣體激光器、固體激光器、半導(dǎo)體激光器和染料激光器等多種激光輸出功率進(jìn)行測量。選用了硅光電探測器,儀器可以感受到1nW的光功率變化。
 【詳細(xì)說明】 
147型激光功率技術(shù)參數(shù) 
顯示    雙性3-1/2位數(shù)字顯示 
光譜響應(yīng)范圍    400 ~ 1100nm 
探測器光敏面尺寸    9.8×9.8mm 
大激光功率密度    500W/cm2（帶衰減器） 
147型激光功測量范圍     不帶衰減器 2mW、20mW、200mW、2mW、20mW 
      帶衰減器 2mW、20mW、200mW、2W、 20W 
147型激光功小分辨率     1nW 
測量不確定度     5%±1 字 
電源     AC 220V±10%, 50Hz 
功耗     8W 
激光功率計