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記憶式照度計TD-2005LX

簡要描述:記憶式照度計TD-2005LX

自動記錄16000筆數(shù)據(jù),含時間紀(jì)錄(年月日時分秒)
手動記錄數(shù)據(jù),Z多250筆
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX(照度)/Ft-cd(呎/燭光)單位選擇切換
精確度: ±4%

  • 產(chǎn)品型號:TD-2005LX
  • 廠商性質(zhì):其他
  • 更新時間:2024-05-01
  • 訪  問  量:462

詳細(xì)介紹

產(chǎn)地國產(chǎn)加工定制

記憶式照度計TD-2005LX 

自動記錄16000筆數(shù)據(jù),含時間紀(jì)錄(年月日時分秒)
手動記錄數(shù)據(jù),Z多250筆
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX(照度)/Ft-cd(呎/燭光)單位選擇切換
精確度: ±4%
感光器光譜反應(yīng)符合C.I.E.規(guī)范
內(nèi)建四種受光源系數(shù)補償

記憶式照度計TD-2005LX 
可外接電源或使用電池

 

自動記錄16000筆數(shù)據(jù),含時間紀(jì)錄(年月日時分秒)
手動記錄數(shù)據(jù),Z多250筆
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX(照度)/Ft-cd(呎/燭光)單位選擇切換
精確度: ±4%
感光器光譜反應(yīng)符合C.I.E.規(guī)范
內(nèi)建四種受光源系數(shù)補償
  一般照度、鈉燈(sodium)、日光燈( fluorescent light)及太陽燈(sunlamp)  
讀值鎖定及記錄測量中之Z大/Z小值
可外接電源或使用電池

自動記錄16000筆數(shù)據(jù),含時間紀(jì)錄(年月日時分秒)
手動記錄數(shù)據(jù),Z多250筆
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX(照度)/Ft-cd(呎/燭光)單位選擇切換
精確度: ±4%
感光器光譜反應(yīng)符合C.I.E.規(guī)范
內(nèi)建四種受光源系數(shù)補償
  一般照度、鈉燈(sodium)、日光燈( fluorescent light)及太陽燈(sunlamp)  
讀值鎖定及記錄測量中之Z大/Z小值
可外接電源或使用電池

 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:手持式四探針測試儀
產(chǎn)品型號:M-3

手持式四探針測試儀型號:M-3

M-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 
儀器成套組成:由M-3主機、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。 
儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校功能;手動/自動轉(zhuǎn)換量程可選;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用! 
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進行測量。配探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。  
詳見《四探針探頭特點與選型參考》點擊進入 
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點。  
儀器于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的手持式導(dǎo)電性能的測試。

4) 適配器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電

5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈   重:≤0.3kg

  
三、基本技術(shù)參數(shù) 
1. 測量范圍、分辨率

 

量程(Ω-cm/□)

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

電阻測試范圍

0.010~2.200

2.000~22.00

20.00~220.0

0.200~2.200k

2.000~50.00k

電阻率/方阻

0.010/0.050~2.200

2.000~22.00

20.00~220.0

0.200~2.200k

2.000~20.00k/100.0k

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB


電    阻:     0.010Ω ~ 50.00kΩ,     分辨率0.001Ω ~ 10 Ω 
電 阻 率:     0.010Ω-cm~ 20.00kΩ-cm, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω-cm 
方塊電阻:     0.050Ω/□ ~ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω ~ 10 Ω/□  
2. 可測材料尺寸 
手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺決定如下: 
直    徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm。停產(chǎn) 
SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。 
長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm。. 
測量方位: 軸向、徑向均可. 
3. 量程劃分及誤差等級

 

 

 

產(chǎn)品名稱:缺口制樣機 
產(chǎn)品型號: QK20

  缺口制樣機  型號: QK20
  
 QK20缺口制樣機,是用機械加工方法制備加工塑料、有機玻璃等非金屬材料的簡支梁、懸臂梁沖擊試驗用標(biāo)準(zhǔn)缺口樣條的設(shè)備,該機符合ISO179、ISO180、GB/T1043、GB/T1843、GB/T8814D的要求 

主要技術(shù)參數(shù)及規(guī)格: 
銑缺口刀具長度:50 mm 
大銑切厚度:20mm

 

 

 

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