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光耦參數測試儀

簡要描述:光耦參數測試儀
,是一種專門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,電子產品或電子元件供應商來料檢測。

  • 產品型號:JFY3010A
  • 廠商性質:其他
  • 更新時間:2024-05-15
  • 訪  問  量:2569

詳細介紹

品牌其他品牌產地國產
加工定制

光耦參數測試儀型號:JFY3010A

 

光耦參數測試儀

 

 

詳細介紹
※概述:
是一種**門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。
※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※             測量參數:

是一種**門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用安全方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。
※             測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※             測量參數:

參數指標表:

參數

測試參數

測試條件設置

輸入正向壓降(VF)

0-2.000V

0-400MA

耐壓(BVCEO)

0-1200V

0-2.000MA

傳輸比(CTR)

0-3000

VCE:0-20V IC:0-2.000A

飽和壓降(Vsat)

0-2.000V

IF:0-400MA IC:0-2.00A

輸出漏電流(Iceo)0-1mAVCE=20V
輸入反向漏電流(IR)0-1mAVR=4V


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